德国菲尼克斯PHYNIX Surfix PBF内置探头铁基基本型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
1.德国PHYNIX公司制造
2.基本型,碳化钨超耐磨测头,特快反应速度,一体测头
3.可测铁基体上涂镀层
4.量程1500μm,精度±1μm+1%读数
5.分辨率0.1μm.背景光
技术参数:
测量范围 | 0-1500μm,0 - 60mils |
误差 | ±(1μm+1%读数) |
分辨率 | 0.1μm或小于读数的2% |
显示 | 背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示 |
基体最小面积 | 5mmX5mm |
基体最小曲率 | 凸面:1.5mm 凹面:50mm |
基体最小厚度 | F型：0.5mm ,N型：50μm |
校准 | 厂家校准，零校准，校准箔校准 |
数据统计（仅限统计型） | 读数个数（最多9999个），平均值，标准偏差，最大值和最小值 |
数据存储（仅限统计型） | 最多80个测量数值,可单独调出 |
数据值（仅限统计型） | 上下限可调,声音报警 |
数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 |
环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃（可选配150℃） |
电源 | 2节1.5伏七号碱性电池 |
仪器尺寸 | 107X50X25mm |
符合标准 | DIN，ISO，ASTM，BS |
操作语言 | 英语、德语或法语 |
